钨聚合射线屏蔽材料的选择因素
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- 分类：钨业知识
- 发布于 2015年7月16日 星期四 14:25
- 作者：wenjing
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有几个因素影像了射线屏蔽件材料的选择，一般考虑到屏蔽材料的辐射衰减性能，材料的强度及耐损坏的能力，材料的可塑性及延展性，材料的热塑性，及成本效益等因素，这些因素都会影像到射线屏蔽件的性能。例如，一般金属材料若具有很强的辐射屏蔽能力，但是其强度不够，在受到力学性的压力时，由于本身强度不够而很容易形变，这将会影像到屏蔽件屏蔽辐射的效力。同样的，如果使用混凝土材料作为屏蔽件，其强度耐受力都很强，也是相对低成本的产品，但是在高温环境中，其屏蔽中子束的能力将会降低。
在大多数情况下，高密度材料是比低密度的材料衰减辐射的强度更高，而铅材料是传统的辐射屏蔽材料其辐射屏蔽性能很好。虽然低密度的辐射屏蔽材料可以通过增加材料的厚度来提高辐射衰减能力，但是这将会增加屏蔽件的体积，在很多需要高精度及体积小的设备中很难适用。由于钨聚合材料具有高密度性（≥11.34 g/cm3），很好延展性及机加工性能，耐高温耐腐蚀性能好，是可重复利用的环保无毒材料，各种优势使其成为制造钨聚合射线屏蔽件的首选材料。
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钨合金X射线屏蔽件原理
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- 分类：钨业知识
- 发布于 2015年7月16日 星期四 14:22
- 作者：wenjing
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钨合金X射线屏蔽件是用于保护人体和环境不受到X射线所产生辐射的危害。钨合金X射线屏蔽件或钨合金X射线防护罩是能够保护人体及环境不受到电离辐射损害的即有效又科学的防护装置。钨合金X射线屏蔽件的辐射屏蔽能力是基于钨合金材料能够有效衰减光波及射线的能量。
带电粒子在通过屏蔽件的过程中，带电粒子会失去它的能量，而X射线及伽马射线在通过屏蔽件值，会经过光电效应、散射、或分裂等效应被消减能量。中子束可通过弹性或非弹性的散射组合来减少其伤害。大多数的屏蔽件是采用激发以上效应的材料制成。而由于钨合金材料具有高密度性，它能够很好地激发各种光子束射线束的能量反映，且钨合金材料属于无毒环保材料，可在医疗放射治疗，工业勘探，及核工业防护领域广泛应用。
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稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究表征测试-紫外-可见吸收光谱
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- 发布于 2015年7月16日 星期四 14:02
- 作者：xinyi
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以下为稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究的紫外-可见吸收光谱分析。
紫外-可见光谱法实质上是分子吸收光谱。通过紫外光照射，物质分子中价电子发生能级跃迁。电子跃迁并不是产生谱线，而产生一系列波长间隔约为0.025~0.05nm的谱线组成的吸收谱带。不同的谱带对应于分子中不同能级的电子跃迁，这就是利用紫外吸收谱带进行物质结构分析的依据。稀土离子的掺杂会导致紫外吸收边红移或蓝移，可以进一步分析其占位规律。本实验采用CARY型紫外分光光度计，测试范围为200~850nm，测试步长为1nm，扫描频率为600nm/min。
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稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究表征测试-上转换发光测试、荧光寿命分析
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- 分类：钨业知识
- 发布于 2015年7月16日 星期四 14:20
- 作者：xinyi
- 点击数：1336
以下为稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究的上转换发光测试和荧光寿命分析。
上转换发光测试：上转换可使人眼看不见的红外光转换成可见光，即激发波长大于发射波长。本实验采用激发波长980nm的二极管激光器，对稀土离子（Ho3+、Yb3+、Tm3+）掺杂的ZnxCa(1-x)WO4多晶进行上转换发光测试。测试范围400~700nm，测试温度为室温，测试步长1nm。
荧光寿命分析：荧光寿命体现上转换发光强度的重要参数。它表示当光源停止激发后荧光强度变为原强度的1/e所经历的时间。荧光寿命越大，说明电子在发光能级布局越稳定，上转换发光越强。本实验激发光源为二极管激光器，用DPO-5054型示波器记录荧光衰减信号。
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稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究表征测试-XRD测试
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- 发布于 2015年7月16日 星期四 13:58
- 作者：xinyi
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以下为稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究的XRD测试
X射线衍射分析方法可提供表征被测物质的结构信息。每种物质都有特定的分子或原子排列方式。对于晶体物质而言，即晶胞的不同排列方式构成不同的晶体结构，通过X射线衍射图可以观察被测物质的特征峰及强度变化。根据衍射峰的位置与PDF标准卡片进行匹配，可以确定不同物质的晶型结构。本实验采用XRD-6000型衍射分析仪，靶材为铜靶，测试条件为室温，激发波长为0.15nm。
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