半导体测试针用钨针可以是采用铼钨合金打造而成的合金探针，也可以是采用纯钨打造的纯钨探针。其中，铼钨合金的接触电阻比钨稍高而抗疲劳性相似。此外，铼钨合金的晶格结构比钨更加紧密，所以铼钨探针顶端的平面更加光滑。

晶圆探针用什么？晶圆探针用钨针。钨针可以用于集成电路晶圆测试的工具——探针卡的电路板上，又或者是探针台上，主要是测试晶圆上每一个晶粒的电气性能，看它们是否是依照设计规格制造出来的。

为了降低晶圆测试成本，晶圆探测钨针的回收利用很重要。在晶圆测试中，锥形的钨针经过多次测试后开始磨损，导致针头的直径越变越大。此时，如果不将含钨针的探测卡（晶圆测试的工具之一）换掉，会影响测试结果的准确性；而换掉，则会增加成本。对此，有研究人员提出一种对这种探针卡的钨针的处理方法。

晶圆探针卡用什么材料的探针？晶圆探针卡用钨针。探针卡是一种用于晶圆测试的工具，通常由一测试电路板和位于电路板上的针尖弯折成95-105度的锥形钨针构成。测试时，将钨探针的针头直接接触被测晶圆的衬垫，从而实现对晶圆的电性能测试。