ICP-AES法对杂质与钨的影响因素之三四
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- 分类:钨业知识
- 发布于 2018年7月03日 星期二 18:17
- 作者:liangrong
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ICP-AES法为分析氧化钨杂质中普遍的一种方法,除了酸度PH值和La用量对杂质回收率和钨残留量影响外,另外共沉淀次数与静置时间这两项也有着不可或缺的因素。
1.共沉淀次数对杂质回收率和钨残留量的影响
对3份相同的溶液,分别进行1、2、3次共沉淀分离,发现共沉淀次数增加后,杂质元素回收率有所降低。经过l、2、3次共沉淀后,Cd的回收率分别为98.4%、98.0%、94.6%、Mn为99.3%、96.4%、92.5%。所以,单从回收率考虑,进行一次共沉淀分离即可。但必须同时注意到Na2WO4残留量。一次共沉淀分离后,残留Na2WO4浓度达458ml/L,虽较初始浓度下降了40余倍,但对Co、Mn、Ni等仍有一定程度的干扰。两次共沉淀分离后,残留Na2WO4浓度降至176mg/L。三次共沉淀分离后稍有降低,为162mg/L,所以最好的共沉淀次数为两次。
2.静置时间对杂质回收率和钨残留量的影响
沉淀溶解后静置一段时间能显著降低溶液中Na2WO4的浓度(因为部分WO42-以H2WO4形式析出),从而减轻W对待测元素的干扰。测得静置时间为1、2、3、6、12、24h时,残留Na2WO4浓度分别为426、295、213、191、175mg/L。但可以发现杂质元素回收率受静置时间影响不大,对应于上述静置时间时,有实验表明Co的回收率分别为98.5%、97.2%、95.3%、94.8%、93.0%。
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