氧化钨拉曼光谱

拉曼光谱是一种散射光谱。拉曼光谱分析法是基于印度科学家拉曼所发现的拉曼散射效应，对与入射光频率不同的散射光谱进行分析以得到分子振动、转动方面信息，并应用于分子结构研究的一种分析方法。

由于拉曼光谱仪能敏锐对地检测到氧化钨表面缺陷的存在，以化学计量型氧化钨为对比样品，可对所得氧化钨纳米材料进行拉曼光谱分析。氧化钨的拉曼光谱图由三个特征振动带组成，分别位于269，712和803cm，这些振动对应钨-氧键的弯曲振动以及钨-氧键的伸缩振动。与氧化钨对比，位于200-400cm和600-900cm附近氧化钨的振动带要宽得多，强度也要小得多，这是由于在六方晶氧化钨中钨-氧键长的加宽。

这种改变是因为缺陷氧化钨中五价钨离子的振动，同时也证明了所得的氧化钨纳米材料中确实包含有大量氧缺陷。此外，还可以通过电子自旋共振来表征样品中氧空位的变化。缺陷氧化钨曲线g =1.89处有一个非常明显的信号峰，而氧化钨的EPR谱图并未发现任何明显信号峰。对于氧化钨，g=1.89 的信号被认为是由于缺陷存在而造成的，这种情况在其他文献都有报道，这些结果与 XPS 非化学计量特性相符合。

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