ICP-AES用氢氧化镧测定氧化钨杂质
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- 发布于 2018年7月03日 星期二 18:10
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高纯氧化钨是重要的工业原料。国家现行标准分析方法多为先以有机溶剂革取分离,然后用分光光度法或原子吸收光谱法测定。由于不同元素须用不同方法,故预处理冗长繁杂。经典发射光谱法能同时测定多个元素,但精密度差,线性范围窄。钨的谱线极为丰富,对许多共存痕量元素都会产生严重的谱线重叠干扰。
氧化钨纳米带阵列结构材料
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- 发布于 2018年7月03日 星期二 18:08
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氧化钨材料是一种新型功能材料,可用于化学传感器、催化材料、电化学电极、电致变色材料、高温超导材料、太阳能吸收材料、吸波隐形材料等。
ICP-MS分析氧化钨杂质元素优点
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- 发布于 2018年7月03日 星期二 18:08
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电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)是八十年代迅速发展起来的一门新技术,高纯氧化钨中微量杂质元素用ICP-MS法测定能够较准确的分析出其中的元素。它是采用电感耦合等离子体与高分辨率、灵敏的四极质谱探测器联用。ICP-MS与ICP-AES(电感耦合等离子体原子发射光谱法)在检测方式上是不同的,前者检测的是离子,后者检测的是光子。
纸基二维三氧化钨纳米片
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- 发布于 2018年7月03日 星期二 18:06
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近年来,柔性钙钛矿太阳能电池备受关注,而且所用的柔性基底对器件的性能有很大的影响。目前常用的聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)和金属箔片柔性基底已满足不了需求,急需寻找一种廉价、来源丰富的新型柔性可替代基底。
氧化钨杂质元素分析方法恐成难题?
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- 发布于 2018年7月03日 星期二 18:06
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我国是钨产品生产大国,氧化钨是钨的主要产品,为国家出口创汇,氧化钨中杂质的含量严重影响产品的质量,影响氧化钨的出口。
三氧化钨硫化氢气体传感器
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- 发布于 2018年7月03日 星期二 18:02
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硫化氢是一种无色气体,且具有腐蛋恶臭味,其毒性甚烈,在空气中可容许的浓度为10ppm,爆炸上下限范围为4.3%-46.0%。硫化氢气体对于人体的危害属于化学性神经毒、刺激及窒息气体,能破坏红血球,0.1ppm时即可引起嗅觉刺激。因此,如何对空气中微量的硫化氢气体做定量检测,已成为相关作业场所急需解决的问题。
多孔硅复合一维氧化钨纳米结构气敏材料
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- 发布于 2018年7月03日 星期二 17:57
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氮氧化物(NOx)作为一种强毒性气体,是酸雨和光化学烟雾的主要来源,已对人类的健康和安全构成严重威胁。因此对氮氧化物气体的检测成为近年来的研究热点。