エレクトロクロミック材料への三酸化タングステン薄膜の使用

一部の専門家は楕円偏光分光法を用いてエレクトロクロミック材料を製造するための三酸化タングステン薄膜を研究した。専門家によると、この方法は検出速度が速く、非接触で、精度が高く、損傷がないなどの特徴があり、フィルム材料の光学分析において独特の優位性がある。

エレクトロクロミック材料への三酸化タングステン薄膜の使用

詳細については、次のサイトを参照してください。

http://www.tungsten-powder.com/japanese/tungsten-oxide.html

エレクトロクロミック材料への三酸化タングステン薄膜の使用

一部の専門家や学者は以前分光エリプソメトリーによってWO 3薄膜を研究したが、非晶質三酸化タングステン薄膜だけを研究し、その光学定数の変化だけに注目しているという報告もある。つまり、結晶性三酸化タングステンの楕円偏光分光法の研究はまだ不足している。また、WO 3エレクトロクロミック過程において、非晶質WO 3と晶質WO 3との関係、及び光学定数とエレクトロクロミック機構との関係は十分に研究されていない。そのため、これらの点が三酸化タングステンエレクトロクロミック膜の研究の重点となり、結晶三酸化タングステンをよりよく理解することができる。

 

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絶縁ガラス用Cs 0.32 WO 3粒子

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