可减少微刮痕的钨金属的化学机械研磨方法
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- 分类:钨专利技术
- 发布于 2013年4月01日 星期一 09:11
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本发明提供一种可减少微刮痕的钨金属的化学机械研磨方法。步骤如下:
1)提供一半导体基底,其包含有至少一钨插塞及一内金属介电层;
2)钨金属的化学机械研磨制程的前段研磨,采用标准钨研磨浆,于该钨插塞及该介电层的研磨表面上进行;
3)钨金属的化学机械研磨制程的后段研磨,采用一氧化物研磨浆(使用氧化物研磨浆可有效减少介电层表面的微刮痕数量),于该钨插塞及该介电层的研磨表面上进行。
本发明可以避免组件中产生断路的情形,防止金属内连线之间产生高漏电流的问题,确保半导体组件的电性品质。
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