半导体测试探针用钨针
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- 发布于 2020年5月13日 星期三 19:24
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半导体测试探针用什么材料的探针?半导体测试探针用钨针。钨探针主要用于半导体的最终测试阶段。用来连接芯片和测试板的钨探针是影响接触和电气特性的一个重要因素。通俗来说,探测钨针的存在是为了识别良品和不良品。
化学气相沉积法制备WS2纳米片负极材料
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- 发布于 2020年5月13日 星期三 14:41
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作为典型的类似于石墨烯二维层状的纳米材料,WS2纳米片具有较大层间距的片层状结构、较高的理论比容量以及较强的电子传输能力等优点,因此在锂离子电池负极材料中具有良好的发展应用前景。那么,化学气相沉积法应如何制备WS2纳米片负极材料呢?