Ta掺杂WO3薄膜

薄膜的循环寿命是电致变色材料应用的一个重要参数，也是评价其性能好坏的重要标准之一。因而，有专家采用循环伏安法对Ta掺杂WO3薄膜的循环寿命进行测试，即在薄膜样品上反复施加-0.6～+0.6V的电压，使薄膜循环着退色多次，观察样品在50次循环后的循环伏安曲线的稳定性。未掺杂和掺杂15%钽的氧化钨薄膜的循环伏安曲线如下图所示。

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从上图（a）中可以看到，纯氧化钨薄膜在50次循环后其循环伏安曲线所包围的面积已经明显减少，说明其在酸性电解液中的稳定性较差，而且Ｈ+离子的注入已经对薄膜造成一定程度的腐蚀。而图（b）中，Ta掺杂为15%的WO3薄膜的情况则不同，在50次循环后循环伏安曲线的形状和面积仍然维持得很好，说明Ta掺杂量为15%的氧化钨薄膜有较好的循环伏安稳定性。专家表示，这是因为在WO3薄膜中进行Ta掺杂后薄膜表现出良好的抗酸腐蚀性，可以显著提高薄膜的循环寿命。

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