硬质合金探针

硬质合金探针也被称为测试针，是电测试中的接触媒介。其具有优良的性能，在电测试以及一些电子元件检测中有着广泛应用，其使用寿命相比于其他材料更长。根据结构上的不同，硬质合金探针可分为悬臂探针(劈刀型和环氧树脂型)以及垂直探针(ICT探针、界面探针、微型探针、开关探针、高频探针、旋转探针、高电流探针、半导体探针、电池接触探针、线束测试探针)，而从电子测试用途上，其还能够分为：

1.光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针,国内大部分的探针产品均可替代进口产品；
2.在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针,高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，国内部分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品；
3.微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针，核心技术还是掌握在国外公司手中，国内生产厂商积极参与研发，但只有一小部分成功生产。

另外，为了保证一定的测量精度，在探针的使用上，需要注意以下几点：
1.探针长度尽可能短：以减少探针的弯曲或偏斜对精度的影响；
2.连接点最少：每次将探针与加长杆连接在一起时，就相当于额外引入了新的潜在弯曲和变形点；
3.检测球尽可能大：使得球/杆的空隙最大，这样减少了由于晃动而误触发的可能，并且科学若被测表面未抛光部分对精度所造成的影响。

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