半导体测试针用钨针

半导体测试针用钨针可以是采用铼钨合金打造而成的合金探针，也可以是采用纯钨打造的纯钨探针。其中，铼钨合金的接触电阻比钨稍高而抗疲劳性相似。此外，铼钨合金的晶格结构比钨更加紧密，所以铼钨探针顶端的平面更加光滑。

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这意味着铼钨探针的顶端被污染的可能性更小，更容易清洁，其接触电阻也比钨更加稳定。因此，铼钨探针是一种比较合适的半导体测试针。当然了，在半导体测试中，探针的其他参数也会影响到测试结果，如针尖的直径与形状、触点压力以及探针台的平整度，等等。

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