纯钨制品中杂质的ICP-MS详细介绍

电感耦合等离子体质谱仪（ICP-AES）具有谱线简单，基体干扰少，灵敏度高和多元素同时测定的特点，与ICP-AES相比，ICP-MS对人多数元素的检出限改善了1〜2个数量级。

ICP-MS在地质、水质、食品、环境领域得到广泛应用，在髙纯物质分析领域ICP-MS的应用研究近几年也有报道，如测定金属铝和二氧化钛中的痕量杂质，在单一稀土氧化物产品高纯氧化钕、氧化钐、氧化钆中 痕量稀土杂质分析也多有报道。采用ICP-MS直接测定钨制品中的杂质元素的方法尚未见报道。

纯钨制品包括钨粉、碳化钨粉、仲钨酸铵、蓝色氧化钨、黄色氧化钨等,这些产都是钨产业链中重要的一环。随着科学技术水平的提高，钨深加工对原材料的纯度要求也越來越高，其中的杂质往往影响产品的质量，因此开展对钨制品中杂质的测定方法研究具有重要意义。国家标准GB/T4324.1—GB/ T4324.30—1984是采用化学分析方法测定钨制品中杂质，多为原子吸收光谱法和分光光度法，方法灵敏度低、步骤繁琐、试剂消耗量大、成本高、工效低。行业标准YS/T559-2006采用电弧发射光谱法测定钨制品中杂质，步骤繁琐，检测下限不能满足高纯产品的进一步要求。我们详细考察了用ICP-MS测定钨制品中杂质元素时的光谱干扰和基体效应，采用加入In内标元素和标准加入法校正钨基体产生的抑制效应，直接测定钨制品中的19种杂质元素，克服了ICP-AES存在的灵敏度偏低、谱线干扰严重等问题，方法准确、可靠。

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