ICP-MS分析氧化钨杂质元素优点

电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）是八十年代迅速发展起来的一门新技术，高纯氧化钨中微量杂质元素用ICP-MS法测定能够较准确的分析出其中的元素。它是采用电感耦合等离子体与高分辨率、灵敏的四极质谱探测器联用。ICP-MS与ICP-AES（电感耦合等离子体原子发射光谱法）在检测方式上是不同的，前者检测的是离子，后者检测的是光子。

光子可通过摄谱或CCD（电荷耦合阵列检测器）同时记录，而离子在四极杆质谱计中，在某一时刻只能通过某一质量的离子，其他离子被四级杆吸收。确切地讲ICP-MS不能叫同时测定，他是通过质量扫描控制器使不同质荷比的离子透过四级杆而先后被检测的。ICP-MS与ICP-AES相比，具有以下优点：

①快速多元素定量分析，在5min内可分析周期表中包括氯、澳、碘在内的75种元素。②检出限小于1ng·ml^-1，对稀上元素检出限可小于1ng·ml^-1，一般来说，ICP-MS比ICP-AES检出限要低2～3数量级。③快速半定量分析和定量分析。④同位素分析，同位素稀释法和同位素比值测定法。⑤质谱谱图简单、干扰少，常见的天然同位素约有210条谱线，同位素最多的元素也不过10条，而发射光谱中有的元素如铱多达数千条。⑥噪音低，ICP-MS收到的杂散离子少于10个·S^-1。⑦动态线性范围宽，对大多数元素都有5～6个数量级的动态范围。

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