Ta掺杂WO3薄膜

薄膜的循环寿命是电致变色材料应用的一个重要参数,也是评价其性能好坏的重要标准之一。因而,有专家采用循环伏安法对Ta掺杂WO3薄膜的循环寿命进行测试,即在薄膜样品上反复施加-0.6~+0.6V的电压,使薄膜循环着退色多次,观察样品在50次循环后的循环伏安曲线的稳定性。未掺杂和掺杂15%钽的氧化钨薄膜的循环伏安曲线如下图所示。

Ta掺杂WO3薄膜图片

更多内容请访问:
http://www.tungsten-powder.com/chinese/tungsten_oxide.html

Ta掺杂WO3薄膜的循环伏安稳定性图片

从上图(a)中可以看到,纯氧化钨薄膜在50次循环后其循环伏安曲线所包围的面积已经明显减少,说明其在酸性电解液中的稳定性较差,而且H+离子的注入已经对薄膜造成一定程度的腐蚀。而图(b)中,Ta掺杂为15%的WO3薄膜的情况则不同,在50次循环后循环伏安曲线的形状和面积仍然维持得很好,说明Ta掺杂量为15%的氧化钨薄膜有较好的循环伏安稳定性。专家表示,这是因为在WO3薄膜中进行Ta掺杂后薄膜表现出良好的抗酸腐蚀性,可以显著提高薄膜的循环寿命。

 

微信公众号

 

钨钼视频

2024年1月份赣州钨协预测均价与下半月各大型钨企长单报价。

 

钨钼音频

龙年首周钨价开门红。