辰州矿业

钨合金X射线屏蔽件原理

详细资料: 分类：钨业知识; 发布于 2015年7月16日星期四 14:22; 作者：wenjing; 点击数：1184

钨合金X射线屏蔽件是用于保护人体和环境不受到X射线所产生辐射的危害。钨合金X射线屏蔽件或钨合金X射线防护罩是能够保护人体及环境不受到电离辐射损害的即有效又科学的防护装置。钨合金X射线屏蔽件的辐射屏蔽能力是基于钨合金材料能够有效衰减光波及射线的能量。

带电粒子在通过屏蔽件的过程中，带电粒子会失去它的能量，而X射线及伽马射线在通过屏蔽件值，会经过光电效应、散射、或分裂等效应被消减能量。中子束可通过弹性或非弹性的散射组合来减少其伤害。大多数的屏蔽件是采用激发以上效应的材料制成。而由于钨合金材料具有高密度性，它能够很好地激发各种光子束射线束的能量反映，且钨合金材料属于无毒环保材料，可在医疗放射治疗，工业勘探，及核工业防护领域广泛应用。

钨合金X射线屏蔽件

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稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究表征测试-上转换发光测试、荧光寿命分析

详细资料: 分类：钨业知识; 发布于 2015年7月16日星期四 14:20; 作者：xinyi; 点击数：1289

以下为稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究的上转换发光测试和荧光寿命分析。

上转换发光测试：上转换可使人眼看不见的红外光转换成可见光，即激发波长大于发射波长。本实验采用激发波长980nm的二极管激光器，对稀土离子（Ho³⁺、Yb³⁺、Tm³⁺）掺杂的Zn_xCa_(1-x)WO₄多晶进行上转换发光测试。测试范围400~700nm，测试温度为室温，测试步长1nm。

荧光寿命分析：荧光寿命体现上转换发光强度的重要参数。它表示当光源停止激发后荧光强度变为原强度的1/e所经历的时间。荧光寿命越大，说明电子在发光能级布局越稳定，上转换发光越强。本实验激发光源为二极管激光器，用DPO-5054型示波器记录荧光衰减信号。

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稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究表征测试-XRD测试

详细资料: 分类：钨业知识; 发布于 2015年7月16日星期四 13:58; 作者：xinyi; 点击数：1227

以下为稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究的XRD测试

X射线衍射分析方法可提供表征被测物质的结构信息。每种物质都有特定的分子或原子排列方式。对于晶体物质而言，即晶胞的不同排列方式构成不同的晶体结构，通过X射线衍射图可以观察被测物质的特征峰及强度变化。根据衍射峰的位置与PDF标准卡片进行匹配，可以确定不同物质的晶型结构。本实验采用XRD-6000型衍射分析仪，靶材为铜靶，测试条件为室温，激发波长为0.15nm。

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稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究表征测试-紫外-可见吸收光谱

详细资料: 分类：钨业知识; 发布于 2015年7月16日星期四 14:02; 作者：xinyi; 点击数：1247

以下为稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究的紫外-可见吸收光谱分析。

紫外-可见光谱法实质上是分子吸收光谱。通过紫外光照射，物质分子中价电子发生能级跃迁。电子跃迁并不是产生谱线，而产生一系列波长间隔约为0.025~0.05nm的谱线组成的吸收谱带。不同的谱带对应于分子中不同能级的电子跃迁，这就是利用紫外吸收谱带进行物质结构分析的依据。稀土离子的掺杂会导致紫外吸收边红移或蓝移，可以进一步分析其占位规律。本实验采用CARY型紫外分光光度计，测试范围为200~850nm，测试步长为1nm，扫描频率为600nm/min。

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稀土掺杂钨酸钙多晶制备原理-2

详细资料: 分类：钨业知识; 发布于 2015年7月16日星期四 11:43; 作者：xinyi; 点击数：1443

稀土掺杂钨酸钙[ZnxCa_(1-x)WO_4]多晶制备原理

高温烧结过程如图2-2所示。将样品放入高温炉内，设置控温程序。首先从室温加热2h至750℃，恒温2h除去杂质，再升温2h至主烧结温度，高温煅烧一段时间后停止程序，降至室温，即可得到ZnxCa_(1-x)WO₄多晶。本实验采用的目标温度为900℃、1000℃和1100℃，煅烧时间选择2h、3h和5h，探索得到最佳工艺。