氧化钨超薄纳米片拉曼光谱

超薄纳米片拉曼散射光谱对 W-O 键振动和晶格缺陷都非常敏感，是表征样品一个很好的手段。从图中可以看出，制备的超薄纳米片有两个特征峰：645和943 cm。其中 943cm处峰对应于结构单元中的 W=O 键的伸缩振动。645cm处峰对应于 W-O 键的拉伸振动模式。

除这两个氧化钨超薄纳米片的特征峰外，无其他峰出现。由此说明了剥离过程中氧化钨保留了原有结构，且无新结构出现。 为了更好的对样品的元素进行定性分析，测试了氧化钨纳米片的XPS图。

从图中可以看出，样品中含有钨元素，氧元素和少量的碳元素。其中碳峰的存在归因于来自 XPS仪器本身的非自然碳氢化合物。氧化钨超薄纳米片的W-4f区可以拟合成两个峰：W-4f_7/2和 W-4f_5/2，其结合能分别为 34.28 和 36.38 e V，对应于 W⁶⁺的氧化状态。无 W⁵⁺和 W⁴⁺的存在，说明了在剥离过程中没有缺陷等生成，保证了晶体结构的完整性，保持了原有的晶体结构，这也与 XRD 结果相一致。氧化钨纳米片的 O 区可以拟合成两个峰：529.28 和 531.18 e V。其中 529.28 e V 处峰对应于 W-O 键，而在 531.18 e V 的峰则源自于氧化钨中水分子的O-H键。

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