透射電子顯微鏡用鋇鎢電極

透射電子顯微鏡（TEM）是材料科學、納米技術及生命科學領域的關鍵分析工具，其核心性能依賴於電子槍的電子發射效率與穩定性。鋇鎢電極作為熱陰極電子源的核心材料，通過降低逸出功、提升電子發射能力，顯著優化了TEM的成像解析度與穩定性。

鋇鎢電極由鎢基體與鋇化合物複合而成，兼具高熔點、低逸出功及抗化學中毒特性。鋇鎢電極在透射電子顯微鏡中的主要作用如下：

中鎢智造鋇鎢電極圖片

1. 電子槍核心組件

TEM的電子槍通過加熱鋇鎢電極發射熱電子，形成高亮度、高相干性的電子束。鋇鎢電極的低逸出功特性顯著提升了電子源亮度，使電子束可聚焦至亞埃級探針尺寸，直接決定TEM的解析度極限。

2. 高解析度成像支撐

在TEM成像中，鋇鎢電極提供的穩定電子束流確保了晶體結構、納米顆粒形貌及介面缺陷的高精度表徵。其抗化學中毒特性避免了長時間運行下的性能衰減，滿足材料動態演化觀測（如相變、氧化過程）的需求。

中鎢智造鋇鎢電極圖片

3. 原位實驗技術適配

結合原位加熱、拉伸或電化學裝置，鋇鎢電極支援的TEM系統可即時監測材料在極端條件下的行為。其低雜訊電子發射特性保障了原位實驗的信號信噪比，推動了對材料本征特性的理解。

4. 長壽命與維護優化

鋇鎢電極的儲備式設計通過多孔鎢基體持續補充鋇原子，延長了電極壽命，減少了設備停機維護需求。這一特性尤其適用於需要連續運行的高通量TEM平臺。