納米鎢粉粒度分析法

納米鎢粉由于顆粒尺寸太小，所以很難使用常規粉體的粒度分析法如激光衍射法、沉降法、顯微鏡法、篩分法等來表徵粉末的粒度分布。電鏡觀察雖然能直觀地給出納米粉體的顆粒尺寸和形狀，但是操作過程尤爲繁瑣；而比表面積法一般給出的是粉末的平均直徑。因此，如何快速、準確的表徵納米粉體的粒度分布是納米測量技術領域的發展重點之一。

x射綫小角散射（sAxs）是發生于原光束附近零至幾度範圍內的相干散射現象，物質內部一至數百納米尺度的電子密度的起伏是産生這種散射效應的根本原因。當一束極細的x射綫穿過超細粉末層時，經顆粒內電子的散射，就在原光束附近的極小角域內分散開來，其散射强度分布與粉末的粒度分布密切相關。SAxS技術可以用來表徵顆粒尺寸在1～300nm範圍內的納米鎢粉的粒度分布。一般情况下，小角散射信息來自10^9～10^11個顆粒，可以保證其結果的統計代表性。

光子相關譜法（PCs）是通過測量納米微粒在液體中的擴散係數來測定粒度的。液體中納米微粒以布朗運動爲主，其運動速度取决于粒徑、溫度和粘度係數等因素。在分散介質的溫度T和粘度係數η恒定的條件下，微粒在分散系中的擴散係數D與顆粒直徑d將滿足下面的關係式

如果已知T和η，通過測定顆粒的擴散係數就可測定納米鎢粉的粒度分布。

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