半導體測試針用鎢針

半導體測試針用鎢針可以是採用錸鎢合金打造而成的合金探針，也可以是採用純鎢打造的純鎢探針。其中，錸鎢合金的接觸電阻比鎢稍高而抗疲勞性相似。此外，錸鎢合金的晶格結構比鎢更加緊密，所以錸鎢探針頂端的平面更加光滑。

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這意味著錸鎢探針的頂端被污染的可能性更小，更容易清潔，其接觸電阻也比鎢更加穩定。因此，錸鎢探針是一種比較合適的半導體測試針。當然了，在半導體測試中，探針的其他參數也會影響到測試結果，如針尖的直徑與形狀、觸點壓力以及探針台的平整度，等等。

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