純鎢製品中雜質的ICP-MS詳細介紹
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- 分類:鎢的知識
- 發佈於:2018-07-19, 週四 17:11
- 作者 zhilin
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電感耦合等離子體質譜儀(ICP-AES)具有譜線簡單,基體干擾少,靈敏度高和多元素同時測定的特點,與ICP-AES相比,ICP-MS對人多數元素的檢出限改善了1〜2個數量級。
ICP-MS在地質、水質、食品、環境領域得到廣泛應用,在髙純物質分析領域ICP-MS的應用研究近幾年也有報導,如測定金屬鋁和二氧化鈦中的痕量雜質,在單一稀土氧化物產品高純氧化釹、氧化釤、氧化釓中 痕量稀土雜質分析也多有報導。採用ICP-MS直接測定鎢製品中的雜質元素的方法尚未見報道。
純鎢製品包括鎢粉、碳化鎢粉、仲鎢酸銨、藍色氧化鎢、黃色氧化鎢等,這些產都是鎢產業鏈中重要的一環。隨著科學技術水準的提高,鎢深加工對原材料的純度要求也越來越高,其中的雜質往往影響產品的品質,因此開展對鎢製品中雜質的測定方法研究具有重要意義。國家標準GB/T4324.1—GB/ T4324.30—1984是採用化學分析方法測定鎢製品中雜質,多為原子吸收光譜法和分光光度法,方法靈敏度低、步驟繁瑣、試劑消耗量大、成本高、工效低。行業標準YS/T559-2006採用電弧發射光譜法測定鎢製品中雜質,步驟繁瑣,檢測下限不能滿足高純產品的進一步要求。我們詳細考察了用ICP-MS測定鎢製品中雜質元素時的光譜干擾和基體效應,採用加入In內標元素和標準加入法校正鎢基體產生的抑制效應,直接測定鎢製品中的19種雜質元素,克服了ICP-AES存在的靈敏度偏低、譜線干擾嚴重等問題,方法準確、可靠。
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