タングステン針はウエハプローブカードの重要な部分であるので、このプローブカードにタングステンプローブとしても知られている。専門家によれば、ウェハテスト用の主要なツールとしてプローブカードは、通常、回路基板上の試験回路基板および95～105度で曲げられた円錐状のタングステンニードルで構成される。テスト中に、タングステンプローブの先端を被検査ウェハのパッドに直接接触させ、ウエハのダイの電気的性能試験を実現する。

텅스텐 침 은 웨이퍼 프로 브 카드 의 중요 한 구성 부분 이기 때문에 이런 프로 브 카드 에서 도 텅스텐 프로 브 라 고도 부른다.전문가 들 에 따 르 면 웨이퍼 테스트 의 주요 도구 로 서 프로 브 캐릭터 는 회로 기 판 과 회로 기 판 에 95 - 105 도 구 부 러 진 원추형 텅스텐 침 으로 구성 된다.테스트 과정 에서 텅스텐 프로 브 의 첨단 은 측정 을 기다 리 는 웨이퍼 의 용접 판 과 직접 접촉 하여 웨이퍼 금 형의 전기 성능 테스트 를 실현 한다.

텅스텐 웨이퍼 프로 브 는 집적 회로 생산 과정 에서 의 웨이퍼 테스트 를 위해 설계 되 었 다.이 가운데 웨이퍼 테스트 는 칩 에 있 는 모든 칩 을 테스트 하 는 것 이다.보통 텅스텐 재료 로 만 든 프로 브 는 탐측 헤드 에 설치 되 고 금 형의 접점 과 접촉 하여 전기 적 특성 을 측정 한다.불합격 금 형 이 표 시 됩 니 다.그 다음 에 칩 이 하나의 금 형 으로 절단 되 었 을 때 이런 표 시 된 불합격 금 형 은 도 태 될 것 이 며 제조 원 가 를 증가 시 키 지 않도록 다음 공정 을 진행 하지 않 을 것 이다.

タングステンウエハプローブは、集積回路の製造中にウェハテストのために特に設計される。ここで、ウェハテストは、チップ上の各ダイをテストすることである。一般に、検出ヘッドにタングステン材料からなるプローブを搭載し、ダイ上のコンタクトに接触して電気的特性をテストする。未修飾のダイはマークされます。そして、チップが個々の金型に切断されると、これらの不定形のダイは取り除かれ、次の工程は実施されず、製造コストを増加させない。

텅스텐 중합금 다중 잎 콜리메이터에는 많은 텅스텐 합금 잎이 있습니다. 의료용 전자 선형 가속기의 중요한 부분인 텅스텐 합금 다중 잎 콜리메이터는 기존의 리드 블록을 대체하는 새로운 디자인입니다. 아시다시피 납은 독성이 있으며 방사선 차폐 성능은 텅스텐 합금과 비교할 때 그다지 이상적이지 않습니다. 따라서 납 블록의 부피는 텅스텐 합금 잎보다 크므로 소형 장치의 응용 프로그램에 적합하지 않습니다.

タングステン重合金マルチリーフコリメータには、タングステン合金リーフがたくさんあります。医療用電子線形加速器の重要な部分としてのタングステン合金マルチリーフコリメータは、従来の鉛ブロックに代わる新しい設計です。ご存知のように、鉛は有毒であり、タングステン合金と比較した場合、その放射線遮蔽性能はそれほど理想的ではありません。そのため、鉛ブロックの体積はタングステン合金の葉よりも大きく、小型デバイスの用途には適していません。

텅스텐 침 은 사 탐 침 측정기 의 탐 침 으로 쓰 인 다.사 탐 침 측정 기 는 사 탐 침 측정 원 리 를 이용 한 다 용도 종합 측정 장치 다.이런 프로 브 는 사용 수명 이 길 고 포 지 셔 닝 이 정확 하 며 이 전 률 이 낮 다 는 특징 을 가지 고 있다.그것 은 내 마모 성 이 높 은 탄화텅스텐 을 원료 로 만 들 수 있다.

タングステン針は4プローブテスタのプローブとして使用される。つのプローブテスタは、4つのプローブ測定原理を使用する多目的総合測定装置です。このようなプローブは、長寿命、正確な位置決め、低マイグレーション率の特性を有する。また、高耐摩耗性炭化タングステンを原料として製造してもよい。

서로 다른 테스트 과정 에서 텅스텐 침 은 항상 테스트 프로 브 로 쓰 인 다.테스트 프로 브 의 텅스텐 침 은 순 텅스텐 프로 브, 레늄 텅스텐 프로 브, 탄화텅스텐 프로 브 등 이 될 수 있다. 프로 브 재료 의 선택 은 주로 전자 테스트 의 목적 을 바탕 으로 한다.

タングステン針は、異なる試験プロセスにおける試験プローブとしてしばしば使用される。テストプローブ用のタングステン針は、純タングステンプローブ、レニウムタングステンプローブ、タングステンカーバイドプローブ等であってもよい。プローブ材料の選択は主として電子テストの目的に基づいている。