エレクトロクロミックスマートガラスにおけるWO3薄膜の使用

いくつかの専門家はエレクトロクロミックスマートガラスを製造するWO3薄膜に対して楕円偏光スペクトル試験を行った。では、専門家たちはWO3薄膜に対してどのように分光楕円偏光試験を行ったのだろうか。

詳細については、次のサイトを参照してください。

http://www.tungsten-powder.com/japanese/tungsten-oxide.html

一部の専門家は電解質として0.5MH2SO4を用い、Pt板を対電極、Ag/AgClを参照電極とする三電極系においてWO3膜にエレクトロクロミック特性評価を行い、それぞれ試料に0V（電圧無印加）、−0.2V、−0.4V、−0.6V、−0.8V及び−1Vの電圧を印加してエレクトロクロミックを引き起こし、変色後に試料を取り出してスペクトル楕円偏光試験を行った。

スペクトル楕円偏光法とは？スペクトル楕円偏光法は入射光の偏光状態変化の測定に基づいて膜厚と光学定数を特徴づける方法である。光学定数も材料の内部特性を反映しているため、楕円偏光分光法は薄膜材料の酸素空孔、キャリア密度及び極性及びフォノン特性を研究するのにも用いられる。

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