近赤外線遮蔽材料へのCs0.33WO3−xFxの使用

Cs0.33WO3−xFxは重要な近赤外遮蔽材料であり、ゲルゲル法により製造することができる。例えば、一部の専門家はゾル−ゲル法によりタングステン酸、CsCl及びCsFを原料として（Cs/W=0.33）Cs及びF共ドープCs0.33WO3−xFxを製造し、異なるFドープ量が生成物相、形態及び光学特性に与える影響を討論した。

詳細については、

http://cesium-tungsten-bronze.com/japanese/index.html

その結果、Fドーピング量の増加に伴い、生成物の回折ピークは著しく広がり、生成物は徐々にナノロッド（直径約30〜50 nm、長さ約数百ナノメートル）からナノ粒子（直径約10 nm）に変化することが分かった。F／W＝0.22の場合、Cs0.33WO3−xFxは最適な近赤外遮蔽性能を示す。Tvis max（最大可視光透過率）＝76.3%、T 950 nm（950 nmにおける透過率）＝25.7%、TNIR min（最小近赤外透過率）＝10.5%であった。

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