粉末压片-X射线荧光分析钽钛钨铁合金中钽钛钨铁
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- 分类:钨业知识
- 发布于 2015年9月02日 星期三 11:55
- 作者:xinyi
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介绍了粉末压片—X射线荧光光谱法测定CK料中钽钛钨铁含量的分析方法。根据钽钛钨铁样品中主次成分含量范围,用高纯试剂配制出具有成分含量梯度的校准样品;以标样中Ta、Ti、W、Fe元素的荧光强度和含量所具有的对应关系,并考虑到各元素之间的吸收与激发效应,经过校正拟合出Ta、Ti、W、Fe元素的实际工作曲线。该方法与对照样品各元素值符合较好,与其他方法测定结果有良好的一致性。方法的精密度RSD(n=10)在0.04%~0.90%范围内。
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