放电针用钨针具有比传统钢丝或不锈钢丝更为优良的性能，例如，更高的熔点，更高的硬度，更长的使用寿命等，而且，其还具有离子释放效果好、离子输送距离远、针尖不易变钝以及易于清洁针头等特点。

探测钨针的接触电阻会影响到半导体制程中晶圆测试的可靠度。所以，为了提高晶圆针测的准确性，有专家提出了一种测试探测钨针的接触电阻的方法。

磨尖钨针采用纯钨（W＞99.95%）或钨合金（W＞98%）为原料打造而成，具有耐磨、耐腐蚀、耐高温等特点。它可以是一端磨削成尖的钨针，也可以是双头都磨尖的钨针。

半导体测试针用钨针可以是采用铼钨合金打造而成的合金探针，也可以是采用纯钨打造的纯钨探针。其中，铼钨合金的接触电阻比钨稍高而抗疲劳性相似。此外，铼钨合金的晶格结构比钨更加紧密，所以铼钨探针顶端的平面更加光滑。