发射光谱分析钨精矿中微量锑

准确测定出钨精矿中锑(Sb)的含量,对钨冶炼产品的质量控制有着重要的意义。对钨精矿中微量Sb的分析,一般采用的是化学法测定,以下介绍发射光谱法直接分析钨精矿中微量Sb,在检测分析的过程中,于钨精矿粉末试样中加入以石墨碳粉为主的缓冲剂(含氟化钠、碳酸钠、氧化镓等混合物载体),使其在电弧弧柱中发生热化学反应而生成难熔化合物-碳化钨(WC),即可抑制钨基体谱线,降低谱带背景,增强待测Sb元素分析线的谱线强度。

实验的过程首先取0.2g试样与0.1g缓冲剂研磨均匀后填满石墨电极的下电极孔隙中,平压下1mm并刮洁表面,放于红外灯下烘烤30min后,将样品电极置于摄谱仪电极架进行摄谱。摄谱后,谱板放入显影液中显影3min(室温20℃),然后迅速移入停影液中停影约1min,再移入定影液中定影至谱板完全透明,用水冲洗后干燥,然后利用计算机控制谱板半自动测光系统进行分析线对的谱线黑度测量,即可分析出钨精矿中的微量锑值。

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