钨合金屏蔽件在非破坏性试验中的应用

非破坏性试验也称无损试验，通常指不破坏产品结构，不损害产品性能的检验方法及所用相关手段。产品的检测分破坏与不破坏产品两类，后者侧重于外观，要逐个进行，但只要合格即可。对于前者通常采取任意抽样，而且侧重于内在质量，对指定的怀疑有内在缺陷的产品进行解剖。由于破坏性试验最终都要以牺牲一个产品为代价，利用非破坏性试验检测产品则可以做到兼顾，既不破坏产品又能确切掌握内在质量。

非破坏性试验检测缺陷产品时是利用电磁辐射，声音以及材料固有的属性对样品进行检测，包括用显微镜对样品的外表面进行详细地检测。样品的表面要进行抛光处理，样品的厚度需达到电子透视所需的厚度。但样品的制备工艺，光学显微术以及电子显微术还是具有破坏性。而样品的内部只能利用穿透性电磁辐射进行检测，例如X射线和3D X射线。此时钨合金屏蔽件（如图）就可以有效地屏蔽由于使用X射线或3D X射线检测产品缺陷时造成的有害辐射。

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