烧结工艺对钨铜合金电极性能的影响(二)
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- 分类:钨业知识
- 发布于 2015年11月05日 星期四 17:22
在压坯密度相同的情况下,随着烧结温度的升高,钨骨架的密度也逐渐增大。而制备熔渗性良好的钨骨架,一方面需要钨骨架具有一定的硬度和强度,另一方面又要求钨骨架内部有较好的连通性,这样才有利于金属铜的熔渗。钨粉的单元系烧结又可细分为三个阶段,分别为联结阶段、烧结颈的长大阶段、闭孔隙球化和缩小阶段。因此,要获得理想的钨骨架,要尽量把烧结过程控制在第二阶段以内,以减少孔隙度,并针对不同粉末粒度采用最佳的烧结温度。
随着温度的升高,钨铜合金电极在烧结的前两个阶段,密度逐渐增大。钨粉的原始接触点或接触面转变为晶体结合,即通过形核、长大等原子过程形成烧结颈,然后原子向钨粒的结合面大量的迁移使得烧结颈扩大,颗粒间距缩小,并形成连续的孔隙网络,同时由于晶粒长大,晶界开始不断迁移,被晶界扫过的区域孔隙大量消失,从而形成连通的钨骨架。当温度从1150℃升高到1250℃,钨骨架密度由12.15g/cm3升高到12.39g/cm3。然而,此后烧结温度继续升高,在钨骨架烧结的第三阶段及后期,其密度变化也较小。此时,多数孔隙被完全分隔开,闭孔数量则大为增加,孔隙形状趋于球形并不断缩小,不利于后期熔渗工艺的进行。
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