纳米钨粉粒度分析法

纳米钨粉由于颗粒尺寸太小，所以很难使用常规粉体的粒度分析法如激光衍射法、沉降法、显微镜法、筛分法等来表征粉末的粒度分布。电镜观察虽然能直观地给出纳米粉体的颗粒尺寸和形状，但是操作过程尤为繁琐；而比表面积法一般给出的是粉末的平均直径。因此，如何快速、准确的表征纳米粉体的粒度分布是纳米测量技术领域的发展重点之一。

x射线小角散射（sAxs）是发生于原光束附近零至几度范围内的相干散射现象，物质内部一至数百纳米尺度的电子密度的起伏是产生这种散射效应的根本原因。当一束极细的x射线穿过超细粉末层时，经颗粒内电子的散射，就在原光束附近的极小角域内分散开来，其散射强度分布与粉末的粒度分布密切相关。SAxS技术可以用来表征颗粒尺寸在1～300nm范围内的纳米钨粉的粒度分布。一般情况下，小角散射信息来自10^9～10^11个颗粒，可以保证其结果的统计代表性。

光子相关谱法（PCs）是通过测量纳米微粒在液体中的扩散系数来测定粒度的。液体中纳米微粒以布朗运动为主，其运动速度取决于粒径、温度和粘度系数等因素。在分散介质的温度T和粘度系数η恒定的条件下，微粒在分散系中的扩散系数D与颗粒直径d将满足下面的关系式

如果已知T和η，通过测定颗粒的扩散系数就可测定纳米钨粉的粒度分布。

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