脉冲激光沉积法制备二硫化钨饱和吸收体
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- 分类:钨业知识
- 发布于 2019年9月30日 星期一 14:17
- 作者:Yanqiu
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脉冲激光沉积法制备二硫化钨饱和吸收体可靠性高、成本低廉。制备所得二硫化钨饱和吸收体具有良好的饱和吸收特性和Q值调制能力,可用于光纤激光器中提高激光性能。
饱和吸收体(Saturable Absorber,SA)是激光谐振腔内调Q技术中使用的一种开关晶体材料。饱和吸收体对微光的吸收系数随入射光强增大而减小,当达到饱和值时对激光呈现透明,利用它这种饱和吸收特性对激光腔内的损耗(Q值)进行调制,并发射脉冲,产生的脉冲宽度在几纳秒甚至几十皮秒量级。
由于具备独特的带隙结构和可调谐带隙,二硫化钨对光具有饱和吸收特性。当厚度减至单层时,它呈现出直接能量带隙,更易与光相互作用。因此,二硫化钨可制成饱和吸收体,然后用于新型光纤激光器中提高其激光性能。
脉冲激光沉积(Pulsed Laser Deposition,PLD),也被称为脉冲激光烧蚀(Pulsed Laser Ablation,PLA),是一种利用激光对物体进行轰击,然后将轰击出来的物质沉淀在不同的衬底上,得到沉淀或者薄膜的一种手段。
二硫化钨饱和吸收体(WS2 SA)可采用PLD法制备得到。该制备方法具有可靠性高、制备可控、成本低廉和批量制备的优点。
例如,在某一基于二硫化钨的全光纤被动调Q掺铒光纤激光器研制过程中,研究人员将WS2均匀生长在拉锥光纤表面得到WS2 SA,该过程采用PLD法。拉锥光纤由单模光纤(SMF-28)拉锥设备制造而成,其腰部直径为20 μm,锥腰长度为3 mm。不仅如此,他们还在WS2 SA表面镀一层金膜以防止其被外界环境氧化,进而增强它的稳定性和抗干扰能力。二硫化钨表面金膜的厚度约为180 nm。制得的WS2 SA具备良好的饱和吸收特性和Q值调制性能,其调制深度约为15.2%,饱和强度为2.84MW/cm2,非饱和损耗为78%。
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