钯/氧化钨复合材料XPS谱图

利用 XPS 谱图能够测定制备的钯/氧化钨复合材料的元素价态及其组成。钯/氧化钨复合材料的XPS总谱清楚地显示，所得复合材料中包含钨、氧和钯元素，证明成功合成了钯/氧化钨复合材料。

从谱图中可以地看到，位于 335.3 e V 和 340.6 e V 的两个强度较小的峰是特征峰。而位于336.6 eV和341.9eV的两个强度较大的峰是钯的特征峰。大部分的钯离子被还原为钯纳米颗粒，说明了缺陷氧化钨具有一定的还原能力，这种利用载体的还原能力进行原位还原从而获得贵金属纳米颗粒的方法是可行的。将所获得的钯的XPS谱图与标准元素峰位置图谱进行对比后发现，钯/氧化钨复合材料中 钯 3d 的信号峰向低能量区域迁移了大约0.3eV。

这种电子结合能的移动是会受到钯纳米颗粒的大小和载体的影响，这种现象说明了钯/氧化钨复合材料中存在金属-载体的强大相互作用力。这种强的相互作用力能有效地增强催化剂的催化性能。对比了负载前后的XPS谱图发现在负载了钯纳米颗粒之后，峰移动到了低能量区域，这是因为自由电子从缺陷氧化钨转移到了钯纳米颗粒，这也证明了钯纳米颗粒与氧化钨纳米线之间存在着强的相互作用。

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