四探针测试仪用尖头钨针

就高质量的四探针测试仪来说，其最好选用尖头钨针来作为探针，这主要是因为钨针具有良好的导电性能，能让电子更好地传输。换句话来说，使用钨针来测量半导体的电阻率的准确度更高以及测量速度更快。

四探针测试仪是指运用四探针测量原理的多用途综合测量设备，其按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准设计而成的，主要用来测量半导体材料（如硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜以及导电橡胶方块的电阻等。

从构造来看，四探针测试仪是由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成的。测量的数据既可由主机直接显示，也可以由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。

为了使四探针测试仪更好地测试半导体的电流与电压，大多数的设备是选用具有高纯度和强导电能力等特点的尖头钨针来作为探针，这样一来能使所测的数据拥有更高的准确性。

尖头钨针是一种由纯钨（W＞99.95%）或者钨合金（W＞98%）制成的产品，外观结构细长，一端是平面状，另一端是尖头。而根据实际使用情况的不同，钨针的尺寸规格也不一样。正常，钨针长度在20mm—150mm之间，直径在0.5mm—10mm之间。

钨针可以采用拉丝成型工艺来生产，即将金属钨材料加热至塑性，再经过拉伸到想要的直径大小，最后经过剪切冷却。

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