硬質合金探針

硬質合金探針也被稱為測試針，是電測試中的接觸媒介。其具有優良的性能，在電測試以及一些電子元件檢測中有著廣泛應用，其使用壽命相比於其他材料更長。根據結構上的不同，硬質合金探針可分為懸臂探針(劈刀型和環氧樹脂型)以及垂直探針(ICT探針、介面探針、微型探針、開關探針、高頻探針、旋轉探針、高電流探針、半導體探針、電池接觸探針、線束測試探針)，而從電子測試用途上，其還能夠分為：

1.光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針,國內大部分的探針產品均可替代進口產品；
2.線上測試探針：PCB線路板安裝元器件後的檢測探針,高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品；
3.微電子測試探針：即晶圓測試或晶片IC檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內生產廠商積極參與研發，但只有一小部分成功生產。

另外，為了保證一定的測量精度，在探針的使用上，需要注意以下幾點：
1.探針長度盡可能短：以減少探針的彎曲或偏斜對精度的影響；
2.連接點最少：每次將探針與加長杆連接在一起時，就相當於額外引入了新的潛在彎曲和變形點；
3.檢測球盡可能大：使得球/杆的空隙最大，這樣減少了由於晃動而誤觸發的可能，並且科學若被測表面未拋光部分對精度所造成的影響。

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