氧化鎢超薄納米片拉曼光譜

超薄納米片拉曼散射光譜對 W-O 鍵振動和晶格缺陷都非常敏感，是表徵樣品一個很好的手段。從圖中可以看出，製備的超薄納米片有兩個特徵峰：645和943 cm。其中 943cm處峰對應於結構單元中的 W=O 鍵的伸縮振動。645cm處峰對應於 W-O 鍵的拉伸振動模式。

除這兩個氧化鎢超薄納米片的特徵峰外，無其他峰出現。由此說明了剝離過程中氧化鎢保留了原有結構，且無新結構出現。 為了更好的對樣品的元素進行定性分析，測試了氧化鎢納米片的XPS圖。

從圖中可以看出，樣品中含有鎢元素，氧元素和少量的碳元素。其中碳峰的存在歸因於來自 XPS儀器本身的非自然碳氫化合物。氧化鎢超薄納米片的W-4f區可以擬合成兩個峰：W-4f_7/2和 W-4f_5/2，其結合能分別為 34.28 和 36.38 e V，對應於 W⁶⁺的氧化狀態。無 W⁵⁺和 W⁴⁺的存在，說明了在剝離過程中沒有缺陷等生成，保證了晶體結構的完整性，保持了原有的晶體結構，這也與 XRD 結果相一致。氧化鎢納米片的 O 區可以擬合成兩個峰：529.28 和 531.18 e V。其中 529.28 e V 處峰對應於 W-O 鍵，而在 531.18 e V 的峰則源自於氧化鎢中水分子的O-H鍵。

• < 前一頁
• 下一個 >