三氧化鎢和鎢酸鋇的電輸運 Ⅱ

在高壓下BaWO4的電輸運性質研究中，為了獲得更精確的資料，用絕緣墊片技術，防止在實驗中引入附加阻抗的誤差。利用在DAC表面集成的微電路，測量BaWO4的高壓原位阻抗譜，研究了晶粒和晶界效應，可得其壓致弛豫現象和啟動能。對粉末多晶樣品BaWO4來說，兩個阻抗半圓弧融合在一起，電阻較大時，導線的電感對樣品阻抗的影響較小，無需修正資料。然而，並不是所有的實驗中都能測量出清晰的半圓弧，有些阻抗譜也會在高頻區展現出不完整的半圓弧，而在低頻區展現被壓縮的半圓弧。經過測量技術改進，可以清楚的在高頻區和低頻區看到半圓弧。

晶粒電阻和晶界電阻可以通過半圓進行擬合，其截距代表電阻的大小。晶界電阻隨著壓力的變化不同於壓致晶粒電阻的變化。事實上，大部分在高壓下電學參數的異常都是由壓致結構相變引起的。晶粒電阻和晶界電阻隨著壓力的不連續變化表示電輸運性質的變化，反映了壓致結構相變。

在相變過程中，弗倫克爾和肖特基缺陷的種類增多，這是由於相變過程中焓值波動導致的原子熱激發引起的。從6.9到8.9GPa，晶粒弛豫頻率有一個增加的趨勢，這種趨勢與先前弛豫峰的移動方向是一致的。這是由於非同相結構內部的晶粒弛豫頻率不同引起的。因為在這一壓力區間內，有白鎢礦，褐釔鈮礦和BaWO4-II相三種結構出現，與白鎢礦相相比，褐釔鈮礦和BaWO4-II相有更短的弛豫時間。

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