Ta摻雜WO3薄膜

薄膜的迴圈壽命是電致變色材料應用的一個重要參數，也是評價其性能好壞的重要標準之一。因而，有專家採用迴圈伏安法對Ta摻雜WO3薄膜的迴圈壽命進行測試，即在薄膜樣品上反復施加-0.6～+0.6V的電壓，使薄膜迴圈著退色多次，觀察樣品在50次迴圈後的迴圈伏安曲線的穩定性。未摻雜和摻雜15%鉭的氧化鎢薄膜的迴圈伏安曲線如下圖所示。

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從上圖（a）中可以看到，純氧化鎢薄膜在50次迴圈後其迴圈伏安曲線所包圍的面積已經明顯減少，說明其在酸性電解液中的穩定性較差，而且Ｈ+離子的注入已經對薄膜造成一定程度的腐蝕。而圖（b）中，Ta摻雜為15%的WO3薄膜的情況則不同，在50次迴圈後迴圈伏安曲線的形狀和面積仍然維持得很好，說明Ta摻雜量為15%的氧化鎢薄膜有較好的迴圈伏安穩定性。專家表示，這是因為在WO3薄膜中進行Ta摻雜後薄膜表現出良好的抗酸腐蝕性，可以顯著提高薄膜的迴圈壽命。

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