鎢佈線形成方法
- 詳細內容
- 分類:鎢專利技術
- 發佈於:2013-03-29, 週五 12:01
- 作者 Elva
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本發明提供一種形成鎢佈線的方法。在將形成金屬佈線處形成刻蝕阻擋層用作掩模,以減少對鎢結層的厚度限制。步驟如下:
1)在半導體襯底上形成金屬佈線;
2)形成適當的光致抗蝕劑膜圖形,以暴露金屬佈線層上相應于將形成金屬佈線的部分;
3)固化光致抗蝕劑膜圖形;
4)在金屬佈線層暴露的部分上選擇性地形成金屬薄膜;
5)利用氯基等離子體對金屬薄膜進行處理,從而形成金屬氯化物薄膜;
6)除去光致抗蝕劑膜圖形;
7)將金屬氯化物薄膜作為掩模對金屬佈線層進行刻蝕;
8)除去金屬氯化物薄膜形成鎢佈線。
本發明提供足夠的工藝餘量,從而實現提高半導體器件的可靠性和集成度。
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