半導體測試探針用鎢針
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- 分類:鎢的知識
- 發佈於:2020-05-13, 週三 19:24
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半導體測試探針用什麼材料的探針?半導體測試探針用鎢針。鎢探針主要用於半導體的最終測試階段。用來連接晶片和測試板的鎢探針是影響接觸和電氣特性的一個重要因素。通俗來說,探測鎢針的存在是為了識別良品和不良品。
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鎢針通常被安裝在探針卡或探針臺上。它被製成具有精細的尖端形狀。這是為了讓它在與晶片接觸時不對晶片電極本身造成損傷。半導體測試探針要求材料具有高純度和高精度,所以鎢探針通常採用高純鎢打造而成,且具有超細針尖,表面光滑無傷,光潔度能達到Ra0.25以上。
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